硅酸盐是由 SiO2和 Si- O- Si 键组成的,氧掺杂可以使 Si- O- Si 键变短,从而降低 SiO2的晶格能。在这个过程中, Si- O- Si 键的断裂会产生一些缺陷,如空位、间隙原子等,它们都有助于 SiO2的晶体结构稳定化。
硅酸盐是由 SiO2和 Si- O- Si 键组成的,氧掺杂可以使 Si- O- Si 键变短,从而降低 SiO2的晶格能。在这个过程中, Si- O- Si 键的断裂会产生一些缺陷,如空位、间隙原子等,它们都有助于 SiO2的晶体结构稳定化。因此,氧掺杂对硅酸盐材料的性质具有重要影响。氧掺杂也称为氧缺陷。